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夏比投影儀國標(biāo)介紹
WY-50夏比投影儀(國標(biāo))是專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡便，檢查對比直觀、效率高，是目前唯一切實(shí)可行、并能保證檢查質(zhì)量的方法，是相關(guān)理化試驗(yàn)室的必備儀器。
夏比投影儀國標(biāo)主要技術(shù)參數(shù)：
1、放大倍數(shù)：50×；
2、投影屏尺寸：ф200mm;
3、工作臺位移：縱向±10mm，橫向±10mm，升降±12mm(無刻度)；
4、工作臺轉(zhuǎn)動范圍：0～360°（無刻度）；
5、光源：鹵鎢燈12V 100W;
6、電源：220V 50HZ 150W;
7、外形尺寸：515×224×603mm;
8、重量： 約18kg。
夏比投影儀國標(biāo)主要技術(shù)參數(shù)：
1、放大倍數(shù)：50×；
2、投影屏尺寸：ф200mm;
3、工作臺位移：縱向±10mm，橫向±10mm，升降±12mm(無刻度)；
4、工作臺轉(zhuǎn)動范圍：0～360°（無刻度）；
5、光源：鹵鎢燈12V 100W;
6、電源：220V 50HZ 150W;
7、外形尺寸：515×224×603mm;
8、重量： 約18kg。
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